{"id":1397,"date":"2025-09-11T05:28:53","date_gmt":"2025-09-11T05:28:53","guid":{"rendered":"https:\/\/weitai2.globaldeepsea.site\/product\/silicon-carbide-epitaxy\/"},"modified":"2026-04-29T15:33:45","modified_gmt":"2026-04-29T07:33:45","slug":"silicon-carbide-epitaxy","status":"publish","type":"product","link":"https:\/\/www.cn-semiconductorparts.com\/it\/product\/silicon-carbide-epitaxy\/","title":{"rendered":"Epitassia in carburo di silicio"},"content":{"rendered":"<div class=\"fl-builder-content fl-builder-content-10222 fl-builder-content-primary fl-builder-global-templates-locked\" data-post-id=\"10222\">\n<div class=\"fl-row fl-row-full-width fl-row-bg-none fl-node-66c2f5f4862cd\" data-node=\"66c2f5f4862cd\">\n<div class=\"fl-row-content-wrap\">\n<div class=\"fl-row-content fl-row-full-width fl-node-content\">\n<div class=\"fl-col-group fl-node-66c2f5f48630e\" data-node=\"66c2f5f48630e\">\n<div class=\"fl-col fl-node-66c2f5f48634d\" data-node=\"66c2f5f48634d\" style=\"width: 100%;\">\n<div class=\"fl-col-content fl-node-content\">\n<div class=\"fl-module fl-module-rich-text fl-node-66c2f5f48638b\" data-animation-delay=\"0.0\" data-node=\"66c2f5f48638b\">\n<div class=\"fl-module-content fl-node-content\">\n<div class=\"fl-rich-text\">\n<p><span style=\"font-family: arial, helvetica, sans-serif; font-size: medium;\">Semicera <strong>Epitassia in carburo di silicio<\/strong> \u00e8 progettato per soddisfare le rigorose esigenze delle moderne applicazioni a semiconduttore. Utilizzando tecniche di crescita epitassiale avanzate, garantiamo che ogni strato di carburo di silicio mostri una qualit\u00e0 cristallina eccezionale, uniformit\u00e0 e densit\u00e0 di difetto minima. Queste caratteristiche sono cruciali per lo sviluppo di elettronica di potenza ad alte prestazioni, in cui l'efficienza e la gestione termica sono fondamentali.<\/span><\/p>\n<p><span style=\"font-family: arial, helvetica, sans-serif; font-size: medium;\">IL <strong>Epitassia in carburo di silicio<\/strong> Il processo a semicera \u00e8 ottimizzato per produrre strati epitassiali con spessore preciso e controllo del doping, garantendo prestazioni coerenti su una serie di dispositivi. Questo livello di precisione \u00e8 essenziale per le applicazioni nei veicoli elettrici, nei sistemi di energia rinnovabile e nelle comunicazioni ad alta frequenza, in cui l'affidabilit\u00e0 ed efficienza sono fondamentali.<\/span><\/p>\n<p><span style=\"font-family: arial, helvetica, sans-serif; font-size: medium;\">Inoltre, Semicera's <strong>Epitassia in carburo di silicio<\/strong> Offre una conduttivit\u00e0 termica migliorata e una maggiore tensione di rottura, rendendola la scelta preferita per i dispositivi che operano in condizioni estreme. Queste propriet\u00e0 contribuiscono a una durata pi\u00f9 lunga dei dispositivi e a una migliore efficienza complessiva del sistema, in particolare in ambienti ad alta potenza e ad alta temperatura.<\/span><\/p>\n<p><span style=\"font-family: arial, helvetica, sans-serif; font-size: medium;\">Semicera fornisce anche opzioni di personalizzazione per <strong>Epitassia in carburo di silicio<\/strong>, consentendo soluzioni su misura che soddisfino requisiti specifici del dispositivo. Sia per la ricerca che per la produzione su larga scala, i nostri strati epitassiali sono progettati per supportare la prossima generazione di innovazioni per semiconduttori, consentendo lo sviluppo di dispositivi elettronici pi\u00f9 potenti, efficienti e affidabili.<\/span><\/p>\n<p><span style=\"font-family: arial, helvetica, sans-serif; font-size: medium;\">Integrando la tecnologia all'avanguardia e i rigorosi processi di controllo della qualit\u00e0, semicera garantisce che il nostro <strong>Epitassia in carburo di silicio<\/strong> I prodotti non solo soddisfano ma superano gli standard del settore. Questo impegno per l'eccellenza rende i nostri strati epitassiali le basi ideali per applicazioni a semiconduttore avanzate, aprendo la strada alle scoperte in elettronica di potenza e optoelettronica.<\/span><\/p>\n<\/p><\/div>\n<\/p><\/div>\n<\/p><\/div>\n<\/p><\/div>\n<\/p><\/div>\n<\/p><\/div>\n<div class=\"fl-col-group fl-node-66c2f5f4863c9\" data-node=\"66c2f5f4863c9\">\n<div class=\"fl-col fl-node-66c2f5f486407\" data-node=\"66c2f5f486407\" style=\"width: 100%;\">\n<div class=\"fl-col-content fl-node-content\">\n<div class=\"fl-module fl-module-rich-text fl-node-66c2f5f486430\" data-animation-delay=\"0.0\" data-node=\"66c2f5f486430\">\n<div class=\"fl-module-content fl-node-content\">\n<div class=\"fl-rich-text\">\n<table border=\"0\" cellspacing=\"0\">\n<tbody>\n<tr>\n<td>\n<p>Elementi<\/p>\n<\/td>\n<td>\n<p>Produzione<\/p>\n<\/td>\n<td>\n<p>Ricerca<\/p>\n<\/td>\n<td>\n<p>Manichino<\/p>\n<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td colspan=\"4\">\n<p style=\"text-align: center;\">Parametri cristallini<\/p>\n<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td>\n<p>Politipo<\/p>\n<\/td>\n<td colspan=\"3\">\n<p>4H<\/p>\n<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td>\n<p>Errore di orientamento della superficie<\/p>\n<\/td>\n<td colspan=\"3\">\n<p>4\u00b10.15\u00b0<\/p>\n<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td colspan=\"4\">\n<p style=\"text-align: center;\">Parametri elettrici<\/p>\n<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td>\n<p>Drogante<\/p>\n<\/td>\n<td colspan=\"3\">\n<p>azoto di tipo n<\/p>\n<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td>\n<p>Resistivit\u00e0<\/p>\n<\/td>\n<td colspan=\"3\">\n<p>0,015-0,025ohm \u00b7 cm<\/p>\n<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td colspan=\"4\">\n<p style=\"text-align: center;\">Parametri meccanici<\/p>\n<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td>\n<p>Diametro<\/p>\n<\/td>\n<td colspan=\"3\">\n<p>150,0 \u00b1 0,2 mm<\/p>\n<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td>\n<p>Spessore<\/p>\n<\/td>\n<td colspan=\"3\">\n<p>350 \u00b1 25 \u00b5m<\/p>\n<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td>\n<p>Orientamento piatto primario<\/p>\n<\/td>\n<td colspan=\"3\">\n<p>[1-100]\u00b15\u00b0<\/p>\n<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td>\n<p>Lunghezza piatta primaria<\/p>\n<\/td>\n<td colspan=\"3\">\n<p>47,5 \u00b1 1,5 mm<\/p>\n<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td>\n<p>Piatto secondario<\/p>\n<\/td>\n<td colspan=\"3\">\n<p>Nessuno<\/p>\n<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td>\n<p>TTV<\/p>\n<\/td>\n<td>\n<p>\u22645 \u00b5m<\/p>\n<\/td>\n<td>\n<p>\u226410 \u00b5m<\/p>\n<\/td>\n<td>\n<p>\u226415 \u00b5m<\/p>\n<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td>\n<p>LTV<\/p>\n<\/td>\n<td>\n<p>\u22643 \u03bcm (5mm*5mm)<\/p>\n<\/td>\n<td>\n<p>\u22645 \u03bcm (5 mm*5 mm)<\/p>\n<\/td>\n<td>\n<p>\u226410 \u03bcm (5 mm*5 mm)<\/p>\n<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td>\n<p>Arco<\/p>\n<\/td>\n<td>\n<p>-15\u03bcm ~ 15\u03bcm<\/p>\n<\/td>\n<td>\n<p>-35\u03bcm ~ 35 \u03bcm<\/p>\n<\/td>\n<td>\n<p>-45\u03bcm ~ 45\u03bcm<\/p>\n<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td>\n<p>Ordito<\/p>\n<\/td>\n<td>\n<p>\u226435 \u00b5m<\/p>\n<\/td>\n<td>\n<p>\u226445 \u00b5m<\/p>\n<\/td>\n<td>\n<p>\u226455 \u00b5m<\/p>\n<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td>\n<p>Front (Si-Face) Rughess (AFM)<\/p>\n<\/td>\n<td colspan=\"3\">\n<p>RA\u22640,2 nm (5\u03bcm*5\u03bcm)<\/p>\n<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td colspan=\"4\">\n<p style=\"text-align: center;\">Struttura<\/p>\n<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td>\n<p>Densit\u00e0 di micrivipe<\/p>\n<\/td>\n<td>\n<p>&lt;1 ea\/cm2<\/p>\n<\/td>\n<td>\n<p>&lt;10 ea\/cm2<\/p>\n<\/td>\n<td>\n<p>&lt;15 ea\/cm2<\/p>\n<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td>\n<p>Impurit\u00e0 dei metalli<\/p>\n<\/td>\n<td colspan=\"2\">\n<p>\u22645E10atoms\/cm2<\/p>\n<\/td>\n<td>\n<p>N \/ A<\/p>\n<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td>\n<p>BPD<\/p>\n<\/td>\n<td>\n<p>\u22641500 ea\/cm2<\/p>\n<\/td>\n<td>\n<p>\u22643000 ea\/cm2<\/p>\n<\/td>\n<td>\n<p>N \/ A<\/p>\n<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td>\n<p>TSD<\/p>\n<\/td>\n<td>\n<p>\u2264500 ea\/cm2<\/p>\n<\/td>\n<td>\n<p>\u22641000 ea\/cm2<\/p>\n<\/td>\n<td>\n<p>N \/ A<\/p>\n<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td colspan=\"4\">\n<p style=\"text-align: center;\">Qualit\u00e0 anteriore<\/p>\n<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td>\n<p>Davanti<\/p>\n<\/td>\n<td colspan=\"3\">\n<p>Si<\/p>\n<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td>\n<p>Finitura superficiale<\/p>\n<\/td>\n<td colspan=\"3\">\n<p>Si-Face CMP<\/p>\n<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td>\n<p>Particelle<\/p>\n<\/td>\n<td>\n<p>\u226460ea\/wafer (dimensione\u22650,3\u03bcm)<\/p>\n<\/td>\n<td colspan=\"2\">\n<p>N \/ A<\/p>\n<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td>\n<p>Graffi<\/p>\n<\/td>\n<td>\n<p>\u22645ea\/mm. Lunghezza cumulativa \u2264Diameter<\/p>\n<\/td>\n<td>\n<p>Diametro cumulativo della lunghezza \u22642*<\/p>\n<\/td>\n<td>\n<p>N \/ A<\/p>\n<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td>\n<p>Buccia\/pozzi\/macchie\/striature\/crepe\/contaminazione<\/p>\n<\/td>\n<td colspan=\"2\">\n<p>Nessuno<\/p>\n<\/td>\n<td>\n<p>N \/ A<\/p>\n<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td>\n<p>Bordo chips\/riendi\/frattura\/piastre esadecimale<\/p>\n<\/td>\n<td colspan=\"3\">\n<p>Nessuno<\/p>\n<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td>\n<p>Aree politepi<\/p>\n<\/td>\n<td>\n<p>Nessuno<\/p>\n<\/td>\n<td>\n<p>Area cumulativa\u226420%<\/p>\n<\/td>\n<td>\n<p>Area cumulativa\u226430%<\/p>\n<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td>\n<p>Marcatura laser anteriore<\/p>\n<\/td>\n<td colspan=\"3\">\n<p>Nessuno<\/p>\n<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td colspan=\"4\">\n<p style=\"text-align: center;\">Qualit\u00e0 alla schiena<\/p>\n<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td>\n<p>Finitura posteriore<\/p>\n<\/td>\n<td colspan=\"3\">\n<p>C-FACE CMP<\/p>\n<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td>\n<p>Graffi<\/p>\n<\/td>\n<td>\n<p>\u22645ea\/mm, lunghezza cumulativa\u22642*diametro<\/p>\n<\/td>\n<td colspan=\"2\">\n<p>N \/ A<\/p>\n<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td>\n<p>Difetti posteriori (bordo chip\/rientri)<\/p>\n<\/td>\n<td colspan=\"3\">\n<p>Nessuno<\/p>\n<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td>\n<p>Rugosit\u00e0 posteriore<\/p>\n<\/td>\n<td colspan=\"3\">\n<p>RA\u22640,2 nm (5\u03bcm*5\u03bcm)<\/p>\n<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td>\n<p>Marcatura laser sul retro<\/p>\n<\/td>\n<td colspan=\"3\">\n<p>1 mm (dal bordo superiore)<\/p>\n<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td colspan=\"4\">\n<p style=\"text-align: center;\">Bordo<\/p>\n<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td>\n<p>Bordo<\/p>\n<\/td>\n<td colspan=\"3\">\n<p>Smussare<\/p>\n<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td colspan=\"4\">\n<p style=\"text-align: center;\">Confezione<\/p>\n<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td>\n<p>Confezione<\/p>\n<\/td>\n<td colspan=\"3\">\n<p>Prepasto EPI con imballaggio a vuoto<\/p>\n<p>Packaging a cassette multi-wafer<\/p>\n<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td colspan=\"4\">\n<p style=\"text-align: center;\">*Note \uff1a \u201cNA\u201d significa che nessuna richiesta di richiesta non menzionata pu\u00f2 fare riferimento a semi-std.<\/p>\n<\/td>\n<\/tr>\n<\/tbody>\n<\/table><\/div>\n<\/p><\/div>\n<\/p><\/div>\n<\/p><\/div>\n<\/p><\/div>\n<\/p><\/div>\n<div class=\"fl-col-group fl-node-66c2f5f48652a\" data-node=\"66c2f5f48652a\">\n<div class=\"fl-col fl-node-66c2f5f486568\" data-node=\"66c2f5f486568\" style=\"width: 100%;\">\n<div class=\"fl-col-content fl-node-content\">\n<div class=\"fl-module fl-module-photo fl-node-66c2f5f4865a5\" data-animation-delay=\"0.0\" data-node=\"66c2f5f4865a5\">\n<div class=\"fl-module-content fl-node-content\">\n<div class=\"fl-photo fl-photo-align-center\" itemscope=\"\" itemtype=\"http:\/\/schema.org\/ImageObject\">\n<div class=\"fl-photo-content fl-photo-img-png\"> <img decoding=\"async\" alt=\"tech_1_2_size\" class=\"fl-photo-img wp-image-2173\" itemprop=\"image\" src=\"\/wp-content\/uploads\/2025\/09\/e3ee0b4147c636ee.webp\"> <\/img><\/div>\n<\/p><\/div>\n<\/p><\/div>\n<\/p><\/div>\n<\/p><\/div>\n<\/p><\/div>\n<\/p><\/div>\n<div class=\"fl-col-group fl-node-66c2f5f48646f\" data-node=\"66c2f5f48646f\">\n<div class=\"fl-col fl-node-66c2f5f4864ad\" data-node=\"66c2f5f4864ad\" style=\"width: 100%;\">\n<div class=\"fl-col-content fl-node-content\">\n<div class=\"fl-module fl-module-photo fl-node-66c2f5f4864ec\" data-animation-delay=\"0.0\" data-node=\"66c2f5f4864ec\">\n<div class=\"fl-module-content fl-node-content\">\n<div class=\"fl-photo fl-photo-align-center\" itemscope=\"\" itemtype=\"http:\/\/schema.org\/ImageObject\">\n<div class=\"fl-photo-content fl-photo-img-jpg\"> <img decoding=\"async\" alt=\"Sic Wafer\" class=\"fl-photo-img wp-image-2174\" itemprop=\"image\" src=\"\/wp-content\/uploads\/2025\/09\/4530d9462eb0bb0b.webp\"> <\/img><\/div>\n<\/p><\/div>\n<\/p><\/div>\n<\/p><\/div>\n<\/p><\/div>\n<\/p><\/div>\n<\/p><\/div>\n<\/p><\/div>\n<\/p><\/div>\n<\/p><\/div>\n<\/div>","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>Epitassia in carburo di silicio-strati epitassiali di alta qualit\u00e0 su misura per applicazioni a semiconduttore avanzate, offrendo prestazioni superiori e affidabilit\u00e0 per elettronica di potenza e dispositivi 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