Подложка InP и CdTe

Решения Semicera InP и CdTe Substrate предназначены для высокопроизводительных приложений в полупроводниковой и солнечной энергетике. Наши подложки InP (фосфид индия) и CdTe (теллурид кадмия) обладают исключительными свойствами материала, включая высокую эффективность, отличную электропроводность и надежную термическую стабильность. Эти подложки идеально подходят для использования в современных оптоэлектронных устройствах, высокочастотных транзисторах и тонкопленочных солнечных элементах, обеспечивая надежную основу для передовых технологий.

С Semicera Подложка InP и CdTe , вы можете рассчитывать на превосходное качество и точность, отвечающие конкретным потребностям ваших производственных процессов. Будь то фотоэлектрические приложения или полупроводниковые устройства, наши подложки созданы для обеспечения оптимальной производительности, долговечности и стабильности. Являясь надежным поставщиком, Semicera стремится поставлять высококачественные, настраиваемые решения для подложек, которые способствуют инновациям в секторах электроники и возобновляемых источников энергии.

Кристаллические и электрические свойства ✽ 1

Тип
легирующая примочка
ЭПД(см –2 )(См. ниже А.)
DF (без дефектов) площадь (см) , См. ниже Б.)
с/(с см –3 
Мобильность(у см /Против)
Сопротивление (йОм・см)
n
Сн
≦5×10 4
≦1×10 4
≦5×103
──────
 

(0,5〜6)×10 18
──────
──────
n
S
──────
≧ 10(59.4%)
≧ 15(87%).4
(2〜10)×10 18
──────
──────
p
Зн
──────
≧ 10(59.4%)
≧ 15(87%).
(3〜6)×10 18
──────
──────
СИ
Фе
≦5×10 4
≦1×10 4
──────
──────
──────
≧ 1×10 6
n
никто
≦5×10 4
──────
≦1×10 16
≧ 4×10 3
──────
✽ 1 Другие характеристики доступны по запросу.

A.13 Среднее количество баллов

1. Плотность ямок травления дислокаций измеряется в 13 точках.

2. Рассчитывается средневзвешенное значение плотности дислокаций по площади.

Измерение площади B.DF (в случае гарантии площади)

1. Подсчитываются плотности ямок травления дислокаций в 69 точках, показанных справа.

2. DF определяется как EPD менее 500 см. –2
3. Максимальная площадь пеленгации, измеренная этим методом, составляет 17,25 см. 2

Подложка InP и CdTe (2)

Подложка InP и CdTe (1)

Подложка InP и CdTe (3)

Общие характеристики монокристаллических подложек InP

1. Ориентация
    Ориентация поверхности (100)±0,2° или (100)±0,05°
    Ориентация вне поверхности доступна по запросу.
    Ориентация плоскости OF: (011)±1° или (011)±0,1° ЕСЛИ: (011)±2°
    Cleved OF доступен по запросу.
2. Доступна лазерная маркировка по стандарту SEMI.
3. Доступна индивидуальная упаковка, а также упаковка с газом N2.
4. Доступно травление и упаковка в газе N2.
5. Доступны прямоугольные пластины.
Вышеуказанная спецификация соответствует стандарту JX.
Если требуются другие характеристики, пожалуйста, свяжитесь с нами.

Ориентация

 

Подложка InP и CdTe (4)(1)

Семицера Рабочее место

Семицера рабочее место 2

Оборудование машины

Обработка CNN, химическая очистка, покрытие CVD

Склад Семицера

Наш сервис

Новостная рассылка

С нетерпением ждем вашего контакта с нами