Semicera offers a wide range of 4H-8H SiC wafers. For many years, we have been a manufacturer and supplier of products to the semiconductor and photovoltaic industries. Our main products include: Silicon carbide etch plates, silicon carbide boat trailers, silicon carbide wafer boats (PV & Semiconductor), silicon carbide furnace tubes, silicon carbide cantilever paddles, silicon carbide chucks, silicon carbide beams, as well as CVD SiC coatings and TaC coatings. Covering most European and American markets. We look forward to being your long-term partner in China.
Silicon carbide (SiC) single crystal material has a large band gap width (~Si 3 times), high thermal conductivity (~Si 3.3 times or GaAs 10 times), high electron saturation migration rate (~Si 2.5 times), high breakdown electric field (~Si 10 times or GaAs 5 times) and other outstanding characteristics.
Semicera energy can provide customers with high-quality Conductive (Conductive), Semi-insulating (Semi-insulating), HPSI (High Purity semi-insulating) silicon carbide substrate; In addition, we can provide customers with homogeneous and heterogeneous silicon carbide epitaxial sheets; We can also customize the epitaxial sheet according to the specific needs of customers, and there is no minimum order quantity.
|
أغراض |
إنتاج |
بحث |
دمية |
|
المعلمات البلورية |
|||
|
polytype |
4H |
||
|
خطأ في اتجاه السطح |
4±0.15° |
||
|
المعلمات الكهربائية |
|||
|
Dopant |
نيتروجين من النوع |
||
|
المقاومة |
0.015-0.025OHM · سم |
||
|
المعلمات الميكانيكية |
|||
|
قطر |
99.5 – 100mm |
||
|
سماكة |
350 ± 25 ميكرون |
||
|
الاتجاه المسطح الأولي |
[1-100]±5° |
||
|
طول مسطح أساسي |
32.5±1.5mm |
||
|
Secondary flat position |
90° CW from primary flat ±5°. silicon face up |
||
|
Secondary flat length |
18±1.5mm |
||
|
TTV |
≤5 ميكرون |
≤10 ميكرون |
≤20 μm |
|
LTV |
≤2 μm(5mm*5mm) |
≤5 ميكرون (5 ملم*5 ملم) |
نا |
|
قَوس |
-15μm ~ 15μm |
-35μm ~ 35μm |
-45μm ~ 45μm |
|
الاعوجاج |
≤20 μm |
≤45 ميكرون |
≤50 μm |
|
الخشونة الأمامية (si-face) (AFM) |
Ra≤0.2nm (5μm*5μm) |
||
|
بناء |
|||
|
كثافة micropipe |
≤1 ea/cm2 |
≤5 ea/cm2 |
≤10 ea/cm2 |
|
الشوائب المعدنية |
≤5E10atoms/cm2 |
نا |
|
|
BPD |
≤1500 EA/CM2 |
≤3000 EA/CM2 |
نا |
|
TSD |
≤500 EA/CM2 |
≤1000 EA/CM2 |
نا |
|
الجودة الأمامية |
|||
|
أمام |
سي |
||
|
الانتهاء من السطح |
Si-Face CMP |
||
|
الجزيئات |
≤60A/WEFR (SIZE 30.3μM) |
نا |
|
|
الخدوش |
≤2ea/mm. Cumulative length ≤Diameter |
الطول التراكمي ≤2*القطر |
نا |
|
قشر البرتقال/الحفر/البقع/الدماغ/الشقوق/التلوث |
لا أحد |
نا |
|
|
رقائق الحافة/المسافات البادئة/الكسر/الألواح السداسية |
لا أحد |
نا |
|
|
المناطق polytype |
لا أحد |
منطقة تراكمية 20% |
التراكمية منطقة ≤30% |
|
وضع علامة ليزر الأمامية |
لا أحد |
||
|
جودة الظهر |
|||
|
الانتهاء من الظهر |
C-Face CMP |
||
|
الخدوش |
≤5EA/MM ، الطول التراكمي ≤2*القطر |
نا |
|
|
عيوب الظهر (رقائق الحافة/المسافات البادئة) |
لا أحد |
||
|
خشونة الظهر |
Ra≤0.2nm (5μm*5μm) |
||
|
عودة ليزر العلامات |
1 مم (من الحافة العليا) |
||
|
حافة |
|||
|
حافة |
شامفر |
||
|
التغليف |
|||
|
التغليف |
The inner bag is filled with nitrogen and the outer bag is vacuumed. Multi-wafer cassette, epi-ready. |
||
|
*الملاحظات ： "NA" تعني عدم وجود عناصر طلب لم يتم ذكرها قد تشير إلى Semi. |
|||
