ركائز أكسيد الغاليوم مقاس 2 بوصة - قم بتحسين أجهزتك شبه الموصلة باستخدام ركائز أكسيد الغاليوم عالية الجودة مقاس 2 بوصة من Semicera، المصممة لتحقيق أداء فائق في إلكترونيات الطاقة وتطبيقات الأشعة فوق البنفسجية.
نصفية متحمس للعرض 2″ ركائز أكسيد الغاليوم ، وهي مادة متطورة مصممة لتعزيز أداء أجهزة أشباه الموصلات المتقدمة. هذه الركائز، المصنوعة من أكسيد الغاليوم (Ga 2O3)، تتميز بفجوة نطاق واسعة جدًا، مما يجعلها خيارًا مثاليًا للتطبيقات الإلكترونية الضوئية عالية الطاقة والتردد العالي والأشعة فوق البنفسجية.
الميزات الرئيسية:
• فجوة نطاق واسعة جدًا : ال 2″ ركائز أكسيد الغاليوم توفير فجوة نطاق رائعة تبلغ حوالي 4.8 فولت، مما يسمح بتشغيل الجهد العالي ودرجة الحرارة، وهو ما يتجاوز بكثير قدرات مواد أشباه الموصلات التقليدية مثل السيليكون.
• جهد الانهيار الاستثنائي: تمكن هذه الركائز الأجهزة من التعامل مع الفولتية العالية بشكل ملحوظ، مما يجعلها مثالية لإلكترونيات الطاقة، وخاصة في تطبيقات الجهد العالي.
• الموصلية الحرارية ممتازة: بفضل الثبات الحراري الفائق، تحافظ هذه الركائز على أداء ثابت حتى في البيئات الحرارية القاسية، وهي مثالية للتطبيقات عالية الطاقة ودرجات الحرارة العالية.
• مواد عالية الجودة: ال 2″ ركائز أكسيد الغاليوم توفر كثافات منخفضة للعيوب وجودة بلورية عالية، مما يضمن الأداء الموثوق والفعال لأجهزة أشباه الموصلات الخاصة بك.
• تطبيقات متعددة الاستخدامات: هذه الركائز مناسبة لمجموعة من التطبيقات، بما في ذلك ترانزستورات الطاقة، وثنائيات شوتكي، وأجهزة LED UV-C، مما يوفر أساسًا قويًا لكل من ابتكارات الطاقة والإلكترونيات الضوئية.
أطلق العنان للإمكانات الكاملة لأجهزتك شبه الموصلة مع Semicera 2″ ركائز أكسيد الغاليوم . تم تصميم ركائزنا لتلبية الاحتياجات المطلوبة للتطبيقات المتقدمة اليوم، مما يضمن الأداء العالي والموثوقية والكفاءة. اختر Semicera للحصول على أحدث مواد أشباه الموصلات التي تدفع الابتكار.
|
أغراض |
إنتاج |
بحث |
دمية |
|
معلمات الكريستال |
|||
|
متعدد الأنواع |
4H |
||
|
خطأ في اتجاه السطح |
<11-20 >4±0.15° |
||
|
المعلمات الكهربائية |
|||
|
منشط |
ن نوع النيتروجين |
||
|
المقاومة |
0.015-0.025 أوم·سم |
||
|
المعلمات الميكانيكية |
|||
|
القطر |
150.0 ± 0.2 مم |
||
|
سماكة |
350 ± 25 ميكرومتر |
||
|
التوجه المسطح الأساسي |
[1-100]±5° |
||
|
الطول المسطح الأساسي |
47.5±1.5 ملم |
||
|
شقة ثانوية |
لا أحد |
||
|
تي تي في |
≤5 ميكرون |
≤10 ميكرون |
≤15 ميكرون |
|
القيمة الدائمة |
≤3 ميكرومتر (5 مم * 5 مم) |
≤5 ميكرومتر (5 مم * 5 مم) |
≤10 ميكرومتر (5 مم * 5 مم) |
|
قَوس |
-15 ميكرومتر ~ 15 ميكرومتر |
-35 ميكرومتر ~ 35 ميكرومتر |
-45 ميكرومتر ~ 45 ميكرومتر |
|
الاعوجاج |
≤35 ميكرون |
≤45 ميكرون |
≤55 ميكرون |
|
خشونة الجبهة (Si-face) (AFM) |
Ra<0.2nm (5μm*5μm) |
||
|
بناء |
|||
|
كثافة الأنابيب الدقيقة |
<1 لكل سم/سم2 |
<10 لكل سم/سم2 |
<15 لكل وحدة/سم2 |
|
الشوائب المعدنية |
≤5E10atoms/cm2 |
غير متوفر |
|
|
اضطراب الشخصية الحدية |
≤1500 قطعة/سم2 |
≤3000 قطعة/سم2 |
غير متوفر |
|
TSD |
≤500 قطعة/سم2 |
≤1000 قطعة/سم2 |
غير متوفر |
|
الجودة الأمامية |
|||
|
أمام |
سي |
||
|
الانتهاء من السطح |
سي الوجه CMP |
||
|
الجسيمات |
≤60 قطعة/رقاقة (الحجم ≥0.3μm) |
غير متوفر |
|
|
الخدوش |
≤5ea/مم. الطول التراكمي ≥ القطر |
الطول التراكمي ≥2*القطر |
غير متوفر |
|
قشر البرتقال / الحفر / البقع / التشققات / الشقوق / التلوث |
لا أحد |
غير متوفر |
|
|
رقائق الحافة/المسافات البادئة/الكسر/ألواح سداسية |
لا أحد |
||
|
مناطق متعددة الأنواع |
لا أحد |
المساحة التراكمية ≥20% |
المساحة التراكمية ≥30% |
|
علامات الليزر الأمامية |
لا أحد |
||
|
جودة الظهر |
|||
|
الانتهاء من الخلف |
C-الوجه CMP |
||
|
الخدوش |
≤5ea/mm، الطول التراكمي ≥2*القطر |
غير متوفر |
|
|
عيوب الظهر (رقائق الحواف/المسافات البادئة) |
لا أحد |
||
|
خشونة الظهر |
Ra<0.2nm (5μm*5μm) |
||
|
وسم بالليزر على الظهر |
1 ملم (من الحافة العلوية) |
||
|
حافة |
|||
|
حافة |
الشطب |
||
|
التعبئة والتغليف |
|||
|
التعبئة والتغليف |
Epi جاهز مع تعبئة مفرغة من الهواء تغليف كاسيت متعدد الرقاقات |
||
|
*ملاحظات: "NA" تعني عدم وجود طلب. قد تشير العناصر غير المذكورة إلى SEMI-STD. |
|||
