4″6″ 8″ N-type SiC Ingot

Semicera’s 4″, 6″, and 8″ N-type SiC Ingots are the cornerstone for high-power and high-frequency semiconductor devices. Offering superior electrical properties and thermal conductivity, these ingots are crafted to support the production of reliable and efficient electronic components. Trust Semicera for unmatched quality and performance.

Semicera’s 4″, 6″, and 8″ N-type SiC Ingots represent a breakthrough in semiconductor materials, designed to meet the increasing demands of modern electronic and power systems. These ingots provide a robust and stable foundation for various semiconductor applications, ensuring optimal performance and longevity.

Our N-type SiC ingots are produced using advanced manufacturing processes that enhance their electrical conductivity and thermal stability. This makes them ideal for high-power and high-frequency applications, such as inverters, transistors, and other power electronic devices where efficiency and reliability are paramount.

The precise doping of these ingots ensures that they offer consistent and repeatable performance. This consistency is critical for developers and manufacturers who are pushing the boundaries of technology in fields like aerospace, automotive, and telecommunications. Semicera’s SiC ingots enable the production of devices that operate efficiently under extreme conditions.

Choosing Semicera’s N-type SiC Ingots means integrating materials that can handle high temperatures and high electrical loads with ease. These ingots are particularly suited for creating components that require excellent thermal management and high-frequency operation, such as RF amplifiers and power modules.

By opting for Semicera’s 4″, 6″, and 8″ N-type SiC Ingots, you are investing in a product that combines exceptional material properties with the precision and reliability demanded by cutting-edge semiconductor technologies. Semicera continues to lead the industry by providing innovative solutions that drive the advancement of electronic device manufacturing. 

أغراض

إنتاج

بحث

دمية

المعلمات البلورية

polytype

4H

خطأ في اتجاه السطح

4±0.15°

المعلمات الكهربائية

Dopant

نيتروجين من النوع

المقاومة

0.015-0.025OHM · سم 

المعلمات الميكانيكية

قطر

150.0 ± 0.2mm

سماكة

350 ± 25 ميكرون 

الاتجاه المسطح الأولي

[1-100]±5°

طول مسطح أساسي

47.5 ± 1.5mm

شقة ثانوية

لا أحد

TTV

≤5 ميكرون 

≤10 ميكرون 

≤15 ميكرون 

LTV

≤3 ميكرون (5 ملم*5 ملم)     

≤5 ميكرون (5 ملم*5 ملم)     

≤10 ميكرون (5 ملم*5 ملم)     

قَوس

-15μm ~ 15μm

-35μm ~ 35μm

-45μm ~ 45μm

الاعوجاج

≤35 ميكرون 

≤45 ميكرون 

≤55 ميكرون 

الخشونة الأمامية (si-face) (AFM) 

Ra≤0.2nm (5μm*5μm)

بناء

كثافة micropipe 

<1 EA/CM2

<10 EA/CM2

<15 EA/CM2

الشوائب المعدنية

≤5E10atoms/cm2

نا

BPD

≤1500 EA/CM2

≤3000 EA/CM2

نا

TSD

≤500 EA/CM2

≤1000 EA/CM2

نا

الجودة الأمامية

أمام

سي

الانتهاء من السطح

Si-Face CMP

الجزيئات

≤60A/WEFR (SIZE 30.3μM)

نا

الخدوش

≤5ea/مم. الطول التراكمي ≤Diameter  

الطول التراكمي ≤2*القطر  

نا

قشر البرتقال/الحفر/البقع/الدماغ/الشقوق/التلوث

لا أحد

نا

رقائق الحافة/المسافات البادئة/الكسر/الألواح السداسية

لا أحد

المناطق polytype 

لا أحد

منطقة تراكمية 20%  

التراكمية منطقة ≤30%  

وضع علامة ليزر الأمامية

لا أحد

جودة الظهر

الانتهاء من الظهر

C-Face CMP

الخدوش

≤5EA/MM ، الطول التراكمي ≤2*القطر   

نا

عيوب الظهر (رقائق الحافة/المسافات البادئة)

لا أحد

خشونة الظهر

Ra≤0.2nm (5μm*5μm)

عودة ليزر العلامات

1 مم (من الحافة العليا) 

حافة

حافة

شامفر

التغليف

التغليف

جاهز لـ EPI مع تغليف فراغ  

عبوات الكاسيت متعددة الفرس

*الملاحظات : "NA" تعني عدم وجود عناصر طلب لم يتم ذكرها قد تشير إلى Semi.    

tech_1_2_size

رقائق كذا

Newletter

نتطلع إلى اتصالك معنا