السيليكون على رقائق العازل

Semicera’s Silicon-on-Insulator wafers provide high-performance solutions for advanced semiconductor applications. Ideally suited for MEMS, sensors, and microelectronics, these wafers provide excellent electrical isolation and low parasitic capacitance. Semicera ensures precision manufacturing, delivering consistent quality for a range of innovative technologies. We look forward to being your long-term partner in China.

Silicon on Insulator Wafers from Semicera are designed to meet the growing demand for high-performance semiconductor solutions. Our SOI wafers offer superior electrical performance and reduced parasitic device capacitance, making them ideal for advanced applications such as MEMS devices, sensors, and integrated circuits. Semicera’s expertise in wafer production ensures that each SOI wafer provides reliable, high-quality results for your next-generation technology needs.

Our Silicon on Insulator Wafers offer an optimal balance between cost-effectiveness and performance. With soi wafer cost becoming increasingly competitive, these wafers are widely used in a range of industries, including microelectronics and optoelectronics. Semicera’s high-precision production process guarantees superior wafer bonding and uniformity, making them suitable for a variety of applications, from cavity SOI wafers to standard silicon wafers.

الميزات الرئيسية: 

       •  High-quality SOI wafers optimized for performance in MEMS and other applications.

       •  Competitive soi wafer cost for businesses seeking advanced solutions without compromising quality.

       •  Ideal for cutting-edge technologies, offering enhanced electrical isolation and efficiency in silicon on insulator systems.

Our Silicon on Insulator Wafers are engineered to provide high-performance solutions, supporting the next wave of innovation in semiconductor technology. Whether you’re working on cavity SOI wafers, MEMS devices, or silicon on insulator components, Semicera delivers wafers that meet the highest standards in the industry.

أغراض

إنتاج

بحث

دمية

المعلمات البلورية

polytype

4H

خطأ في اتجاه السطح

<11-20 >4±0.15°

المعلمات الكهربائية

Dopant

نيتروجين من النوع

المقاومة

0.015-0.025ohm·cm

المعلمات الميكانيكية

قطر

150.0±0.2mm

سماكة

350±25 μm

الاتجاه المسطح الأولي

[1-100]±5°

طول مسطح أساسي

47.5±1.5mm

شقة ثانوية

لا أحد

TTV

≤5 μm

≤10 μm

≤15 μm

LTV

≤3 μm(5mm*5mm)

≤5 μm(5mm*5mm)

≤10 μm(5mm*5mm)

قَوس

-15μm ~ 15μm

-35μm ~ 35μm

-45μm ~ 45μm

الاعوجاج

≤35 μm

≤45 μm

≤55 μm

الخشونة الأمامية (si-face) (AFM) 

Ra≤0.2nm (5μm*5μm)

بناء

كثافة micropipe 

<1 EA/CM2

<10 EA/CM2

<15 EA/CM2

الشوائب المعدنية

≤5E10atoms/cm2

نا

BPD

≤1500 ea/cm2

≤3000 ea/cm2

نا

TSD

≤500 ea/cm2

≤1000 ea/cm2

نا

الجودة الأمامية

أمام

سي

الانتهاء من السطح

Si-Face CMP

الجزيئات

≤60ea/wafer (size≥0.3μm)

نا

الخدوش

≤5ea/mm. Cumulative length ≤Diameter

Cumulative length≤2*Diameter

نا

قشر البرتقال/الحفر/البقع/الدماغ/الشقوق/التلوث

لا أحد

نا

رقائق الحافة/المسافات البادئة/الكسر/الألواح السداسية

لا أحد

المناطق polytype 

لا أحد

Cumulative area≤20%

Cumulative area≤30%

وضع علامة ليزر الأمامية

لا أحد

جودة الظهر

الانتهاء من الظهر

C-Face CMP

الخدوش

≤5ea/mm,Cumulative length≤2*Diameter

نا

عيوب الظهر (رقائق الحافة/المسافات البادئة)

لا أحد

خشونة الظهر

Ra≤0.2nm (5μm*5μm)

عودة ليزر العلامات

1 مم (من الحافة العليا) 

حافة

حافة

شامفر

التغليف

التغليف

جاهز لـ EPI مع تغليف فراغ  

عبوات الكاسيت متعددة الفرس

*Notes: “NA” means no request Items not mentioned may refer to SEMI-STD.

tech_1_2_size

رقائق كذا

Newletter

نتطلع إلى اتصالك معنا