حاملات الرقاقات – حلول آمنة وفعالة للتعامل مع الرقاقات من Semicera، مصممة لحماية ونقل رقائق أشباه الموصلات بأقصى قدر من الدقة والموثوقية في بيئات التصنيع المتقدمة.
تقدم Semicera الصناعة الرائدة ناقلات الويفر ، تم تصميمها لتوفير حماية فائقة ونقل سلس لرقائق أشباه الموصلات الدقيقة عبر مراحل مختلفة من عملية التصنيع. ملكنا ناقلات الويفر تم تصميمها بدقة لتلبية المتطلبات الصارمة لتصنيع أشباه الموصلات الحديثة، مما يضمن الحفاظ على سلامة وجودة الرقائق الخاصة بك في جميع الأوقات.
الميزات الرئيسية:
• هيكل من مواد ممتازة: مصنوعة من مواد عالية الجودة ومقاومة للتلوث تضمن المتانة وطول العمر، مما يجعلها مثالية لبيئات غرف الأبحاث.
• تصميم دقيق: تتميز بمحاذاة دقيقة للفتحة وآليات تثبيت آمنة لمنع انزلاق الرقاقة وتلفها أثناء المناولة والنقل.
• التوافق متعدد الاستخدامات: يستوعب مجموعة واسعة من أحجام وسمك الرقاقات، مما يوفر المرونة لمختلف تطبيقات أشباه الموصلات.
• التعامل المريح: تصميم خفيف الوزن وسهل الاستخدام يسهل التحميل والتفريغ، مما يعزز الكفاءة التشغيلية ويقلل وقت المناولة.
• خيارات قابلة للتخصيص: يوفر التخصيص لتلبية متطلبات محددة، بما في ذلك اختيار المواد وتعديلات الحجم ووضع العلامات لتحسين تكامل سير العمل.
عزز عملية تصنيع أشباه الموصلات لديك باستخدام Semicera ناقلات الويفرالحل الأمثل لحماية رقائقك من التلوث والأضرار الميكانيكية. ثق في التزامنا بالجودة والابتكار لتقديم منتجات لا تلبي معايير الصناعة فحسب، بل تتجاوزها، مما يضمن سير عملياتك بسلاسة وكفاءة.
|
أغراض |
إنتاج |
بحث |
دمية |
|
معلمات الكريستال |
|||
|
متعدد الأنواع |
4H |
||
|
خطأ في اتجاه السطح |
<11-20 >4±0.15° |
||
|
المعلمات الكهربائية |
|||
|
منشط |
ن نوع النيتروجين |
||
|
المقاومة |
0.015-0.025 أوم·سم |
||
|
المعلمات الميكانيكية |
|||
|
القطر |
150.0 ± 0.2 مم |
||
|
سماكة |
350 ± 25 ميكرومتر |
||
|
التوجه المسطح الأساسي |
[1-100]±5° |
||
|
الطول المسطح الأساسي |
47.5±1.5 ملم |
||
|
شقة ثانوية |
لا أحد |
||
|
تي تي في |
≤5 ميكرون |
≤10 ميكرون |
≤15 ميكرون |
|
القيمة الدائمة |
≤3 ميكرومتر (5 مم * 5 مم) |
≤5 ميكرومتر (5 مم * 5 مم) |
≤10 ميكرومتر (5 مم * 5 مم) |
|
قَوس |
-15 ميكرومتر ~ 15 ميكرومتر |
-35 ميكرومتر ~ 35 ميكرومتر |
-45 ميكرومتر ~ 45 ميكرومتر |
|
الاعوجاج |
≤35 ميكرون |
≤45 ميكرون |
≤55 ميكرون |
|
خشونة الجبهة (Si-face) (AFM) |
Ra<0.2nm (5μm*5μm) |
||
|
بناء |
|||
|
كثافة الأنابيب الدقيقة |
<1 لكل سم/سم2 |
<10 لكل سم/سم2 |
<15 لكل وحدة/سم2 |
|
الشوائب المعدنية |
≤5E10atoms/cm2 |
غير متوفر |
|
|
اضطراب الشخصية الحدية |
≤1500 قطعة/سم2 |
≤3000 قطعة/سم2 |
غير متوفر |
|
TSD |
≤500 قطعة/سم2 |
≤1000 قطعة/سم2 |
غير متوفر |
|
الجودة الأمامية |
|||
|
أمام |
سي |
||
|
الانتهاء من السطح |
سي الوجه CMP |
||
|
الجسيمات |
≤60 قطعة/رقاقة (الحجم ≥0.3μm) |
غير متوفر |
|
|
الخدوش |
≤5ea/مم. الطول التراكمي ≥ القطر |
الطول التراكمي ≥2*القطر |
غير متوفر |
|
قشر البرتقال / الحفر / البقع / التشققات / الشقوق / التلوث |
لا أحد |
غير متوفر |
|
|
رقائق الحافة/المسافات البادئة/الكسر/ألواح سداسية |
لا أحد |
||
|
مناطق متعددة الأنواع |
لا أحد |
المساحة التراكمية ≥20% |
المساحة التراكمية ≥30% |
|
علامات الليزر الأمامية |
لا أحد |
||
|
جودة الظهر |
|||
|
الانتهاء من الخلف |
C-الوجه CMP |
||
|
الخدوش |
≤5ea/mm، الطول التراكمي ≥2*القطر |
غير متوفر |
|
|
عيوب الظهر (رقائق الحواف/المسافات البادئة) |
لا أحد |
||
|
خشونة الظهر |
Ra<0.2nm (5μm*5μm) |
||
|
وسم بالليزر على الظهر |
1 ملم (من الحافة العلوية) |
||
|
حافة |
|||
|
حافة |
الشطب |
||
|
التعبئة والتغليف |
|||
|
التعبئة والتغليف |
Epi جاهز مع تعبئة مفرغة من الهواء تغليف كاسيت متعدد الرقاقات |
||
|
*ملاحظات: "NA" تعني عدم وجود طلب. قد تشير العناصر غير المذكورة إلى SEMI-STD. |
|||
